ElektroPhysik測(cè)厚儀校準(zhǔn)程序-MINITEST 3100的詳細(xì)資料：

ElektroPhysik測(cè)厚儀校準(zhǔn)程序-MINITEST 3100

（一）校準(zhǔn)有五種不同的方法：
1.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)：推薦用于均勻表面上的測(cè)量，如果物體與ElektroPhysik零板具有相同的材料，尺寸和沖擊度。
2.單點(diǎn)校準(zhǔn)（無需使用振動(dòng)箔調(diào)零）：如果允許誤差p為±（讀數(shù)的3％*加上探頭的常數(shù)誤差），則推薦使用。 （恒定探針的實(shí)例：F.1.6：1μm）。
3.兩點(diǎn)校準(zhǔn)（使用校準(zhǔn)箔進(jìn)行校準(zhǔn)和校準(zhǔn)）：如果預(yù)期的讀數(shù)將接近校準(zhǔn)值，則推薦探針的允許誤差為±（1％... 3％讀數(shù)*（根據(jù)探頭）加恒定探頭誤差）*參照實(shí)驗(yàn)室條件下提供的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。
4.兩點(diǎn)校準(zhǔn)（使用一組兩個(gè)校準(zhǔn)箔）：

•      a）推薦用于粗糙表面上的測(cè)量。
•      b）如果要預(yù)期的厚度在兩個(gè)校準(zhǔn)箔的厚度之間，建議在光滑表面上進(jìn)行測(cè)量。

5.通過涂層（CTC）進(jìn)行校準(zhǔn)：使用校準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。如果測(cè)試樣品被涂覆并且沒有未涂覆的樣品可用于比較，則推薦使用。該方法適用于以下探針：F05，F(xiàn)1.6，F(xiàn)3和FN1.6（僅含鐵部件），F(xiàn)1.6 / 90，F(xiàn)2 / 90，F(xiàn)10，F(xiàn)20和F50。

（二）存儲(chǔ)校準(zhǔn)值
如果儀表為特定目的進(jìn)行校準(zhǔn)，則校準(zhǔn)值將存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，直到更改為止（參見4.1.8校準(zhǔn)值的穩(wěn)定性）。如果要對(duì)某個(gè)探頭進(jìn)行校準(zhǔn)，只需進(jìn)行重新校準(zhǔn)即可。 這將自動(dòng)刪除以前的校準(zhǔn)值，并保存新的校準(zhǔn)值以便立即使用。

校準(zhǔn)程序應(yīng)從頭開始重新啟動(dòng)，如果

• 讀取不正確
• 輸入了不正確的命令
• 儀表已關(guān)閉

（三）校準(zhǔn)示例
校準(zhǔn)是測(cè)量的zui重要的要求。 校準(zhǔn)樣品與產(chǎn)品樣品匹配越緊密，校準(zhǔn)越準(zhǔn)確，因此讀數(shù)越高。 例如，如果要在鋼瓶上測(cè)量產(chǎn)品，則質(zhì)量ST37（軟鋼），ø6 mm，未涂覆樣品的校準(zhǔn)必須在相同質(zhì)量的鋼制圓筒上進(jìn)行，直徑相同。
校準(zhǔn)樣品必須以下列方式對(duì)應(yīng)產(chǎn)品樣品：

• 曲率半徑
• 基材特性
• 基板厚度
• 測(cè)量面積大小
• 進(jìn)行校準(zhǔn)的點(diǎn)

校準(zhǔn)樣品必須始終與產(chǎn)品本身的測(cè)量點(diǎn)相同，特別是在小零件的拐角和邊緣的情況下。 精準(zhǔn)臺(tái)在這里將是無價(jià)的。 有關(guān)詳細(xì)信息，請(qǐng)參閱技術(shù)數(shù)據(jù)。